掃描電鏡SEM
??電子束電流范圍:?1?pA?-?400?nA
??加速電壓:?200?V?–?30?kV
??著陸能量范圍:?20?eV?–?30?keV
? 水平視場寬：10?mm?工作距離下為?3.0?mm（對應于?最小放大倍率?x29）
??10mm?分析工作距離?1kV?時電子束分辨率:?1nm
??輕松安裝和維護的電子槍?–?自動烘烤、自動啟動、無需機械合軸
??保證的最短燈絲壽命：24個月
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產品展示
??電子束電流范圍:?1?pA?-?400?nA
??加速電壓:?200?V?–?30?kV
??著陸能量范圍:?20?eV?–?30?keV
? 水平視場寬：10?mm?工作距離下為?3.0?mm（對應于?最小放大倍率?x29）
??10mm?分析工作距離?1kV?時電子束分辨率:?1nm
??輕松安裝和維護的電子槍?–?自動烘烤、自動啟動、無需機械合軸
??保證的最短燈絲壽命：24個月
Thermo Scientific? Apreo SEM 具有廣泛地適用性，可以在較短時間內為材料研究人員提供卓越的成像質量。
當 Apreo 的電子束打開，形貌和成分襯度可以同時被鏡筒內探測系統(tǒng)呈現：無需繁瑣操作，即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大倍率下，Apreo 的長工作距離（如 10mm 分析工作距離）也能表現出杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上，Apreo的用戶界面也可以高效地引導操作者獲得表征該納米結構的參數條件。 Apreo 能在短時間內解決錯綜復雜的研究問題，適用于需要多功能以及多用戶操作的應用場合。
Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，其創(chuàng)新的末級透鏡設計，絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。 靜電式末級透鏡（Apreo C 和 Apreo S）能夠實現鏡筒內多種信號的同時探測和高分辨率，而 Apreo S 則結合靜電、浸沒式磁場的復合透鏡以進一步提高低電壓下的分辨率，在 1 kV加速電壓下的分辨率為 1.0 nm，不需要電子束減速。通過將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現特有的信號過濾功能。
Apreo 擁有透鏡內背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品，確保在較短的時間內獲得大量的采集信號。與其他背散射探測器不同，這種快速的探測器在導航時、傾斜時或工作距離很短時能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏感樣品時，探測器的優(yōu)越性能尤為突出，即使電流低至幾 pA，它也能提供清晰的背散射圖像。Apreo S 復合末級透鏡通過能量過濾實現高質量的材料襯度以及絕緣樣品的無電荷成像，進一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補充其探測能力，例如定向背散射探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器(GAD)。所有這些探測器都擁有獨一的軟件控制分割功能，以便根據需求選擇有價值的樣品信息。
每個 Apreo 都按標準配備各種用以處理絕緣樣品的策略，包括：高真空技術，例如 SmartSCAN?、漂移補償幀積分(DCFI) 和電荷過濾。對于具有挑戰(zhàn)性的應用，Apreo 可提供電荷緩解策略。其中包括可選的低真空（高為 500 Pa）策略，通過經現場驗證的穿鏡式差分抽氣機構和專用低真空探測器，不但可以緩解任何樣品上的電荷，還能提供好的分辨率和較大的分析電流。
隨著分析技術的使用越來越常規(guī)化，Apreo 倉室經過全新設計，以便更好地支持不同的配件和實驗。倉室最多容納三個 EDS/WDS 端口，可實現快速敏感的 X 射線測量、共面 EDS/EBSD/TKD 排列并與（冷凍）CL、拉曼、 EBIC 和其他技術兼容。所有這些功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得，節(jié)省了新用戶和專家級用戶的時間。可自定義的用戶界面提供了諸多用戶指導、自動化和遠程操作選項。通過所有這些優(yōu)勢（包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理）， Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未來多年的研究難題。
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